CSK-IIA 超聲波試塊

所屬分類：超聲檢測
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發布日期：2018/01/25
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產品說明

尺寸：300mmL*100mmW*25mmT

主要用于：

1)R100測定斜探頭的入射點和前沿長度

2)50mm和1.5mm通孔測定斜探頭的折射角

3)25mm測定探傷儀的水平，垂直線性和動態范圍，縱波掃描范圍和速度

4)R50和R100曲面調節探測范圍和掃描速度

5)直徑50mm，44mm和40mm三個臺階孔測定斜探頭超聲波標準試塊檢測報告1本體材料化學成分主要化學成分應符合GB699合格2本體材料晶粒度本材料經正火處理后，晶粒度應達到7級以上。合格3本材料內部缺陷使用5MHZ直探頭，對試塊進行接觸法超聲波探傷，不得出現大于對比試塊DB-PZ2-2平底孔回波幅度1/4的缺陷回波。合格4折射角度偏差使用2.5MHZ、折射角為45度的斜探頭檢測時,不得超出±2度合格5有機玻璃鑲嵌件縱波傳播時間長溫下,有機玻璃23mm厚度縱波傳播時間相當與20(45)號鋼50mm厚度的縱波時間合格6R100圓弧面中心位置偏差使用2.5MHZT 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出±0.5mm合格7R100圓弧面回波幅度偏差使用2.5MHZ和 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出1.5dB合格8外觀及表面粗糙度外觀光滑無明顯劃傷,碰傷,銹蝕等缺陷,表面粗糙度探測面不得低于Ra3.2,其余Ra6.3合格9幾何尺寸,行位公差尺寸.公差±0.1 各邊垂直度不大于0.05合格